Thick-900系列铁镀镍镀金（Au/Ni/Fe）双层X荧光涂镀层测厚仪采用X荧光分析技术对各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。
我公司集中了国*****X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员，依靠**科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中国的特色，开发生产出的Thick-900系列X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。
铁镀镍镀金（Au/Ni/Fe）双层X荧光涂镀层测厚仪它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
X-Y-Z样品平台移动装置
Thick-900系列X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。
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